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ジュールトムソン方式超高真空極低温磁場中走査型プローブ顕微鏡システム JT-SPM

商品カタログPDF SPMシステム対応表

L-Heの消費量を最小限とした
磁場中で光学アクセス、その場蒸着可能なモデル。

JT-SPM

4つの蒸着用窓を有し観察位置での蒸着が可能、また2つの光学導入窓からはレーザー光を導入できる。液体Heタンク、液体N2タンクを有し、0.1リッター/時のL-He低消費量を実現、9.5リッターのタンクを搭載し4日間の連続運転が可能。


特長
磁場中低温STMかつ針先視認可能
フラグ/フラットタイプサンプル対応、ウォブルスティックでサンプル導入
コリブリセンサーを搭載し、低温での広域スキャン(4um)の高性能AFMを実現するTYTOヘッド
1.2Kの低温観察
3Tの磁場導入可能
4日間の液体He保持時間
用途
劈開面、マイクロ構造物のSPM
In situ 蒸着、原子・分子の吸着
光励起STM・AFM測定、
非弾性トンネル分光
原子分解能での、AFM各機能への応用
仕様
SPMヘッド
最大スキャン範囲 (X × Y × Z) 4 × 4 × 0.4 μm (T < 5 K)
到達温度 1.2 K 以下
磁場強度 3 T (オプション)
安定性 20 pm/h
最小トンネル電流設定 0.5 pA
真空度 観測室・処理室: 1.3 × 10-8 Pa、導入室: 1.3 × 10-5 Pa
STMコントローラー SPECS社 NANONIS

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