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近赤外対応ナノ秒時間分解分光測定装置 TSP-2000

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紫外~可視~近赤外のレーザーフラッシュフォトリシスシステム

NanoSpeK ナノ秒時間分解分光測定システム TSP-2000 TSP-2000 システム

フラッシュフォトリシス法は、光の吸収や発光をプローブとして対象物質の「瞬間」の姿を捉える方法です。プローブとしてはこれまで紫外~可視光の波長領域で多くの研究が行われてきましたが、近年では近赤外領域の有用性が認識されつつあります。一方、計測システムの時間分解能は物質に反応を起こすパルス励起源の時間幅と検出器の時間分解能で決まります。

TSP-2000は世界で初めて紫外~可視~近赤外をワンクリックで測定でき、かつその全波長領域でナノ秒の時間分解能を有するシステムです。パルス励起源としては、YAGレーザーのほかエキシマレーザー・窒素レーザー・パルス電子線などと組み合わせることが可能です。


アプリケーション例
化学修飾フラーレンの光化学特性の測定
光水素発生デバイスの解析
フォトクロミック分子の光化学特性の測定
太陽電池デバイスの解析
希土類近赤外発光の寿命測定 (発光測定モード)
一重項酸素発光の観測 (発光測定モード)

表示画面

表示画面任意の波長で回折格子と検出器が切り替えられます

測定画面

測定画面

仕様
検出器 【紫外~可視】光電子増倍管またはSiフォトダイオード
【近赤外】InGaAs フォトダイオード
最高応答速度 時定数8ns以下、立ち上がり 20 ns 以下、周波数応答 20 MHz 以上※さらに高速な測定も可能です。別途ご相談下さい。
応答切り替え 【時定数】30 ns, 100 ns, 1 μs, 10 μs, 100 μs
モニター光源 150W Xeランプ + 150W ハロゲンランプ
分光器 焦点距離 200 mm、F/4、逆線分散 11 nm/mm
回折格子 ブレーズ 300 nm, 500 nm, 1 μm の3枚搭載、全て 300 G/mm
光学系 レンズ系による光学系、ブレッドボード付 励起光光路 垂直入射、斜入射
サンプルホルダ 溶液用 10 mm 角セル、2 mm セル、固体、薄膜用サンプルサイズにより別途ご相談、恒温水循環方式
コントローラ 感度自動調整 (光電子増倍管)、オフセット自動調整 (フォトダイオード)、擬似対数サンプリング、レーザーの外部制御、分周制御、シングルショット
オシロスコープ アナログ帯域 100 MHz、サンプリングレート1.25 GS/s
ソフトウェア 自動波長掃引、自動回折格子切り替え、自動検出器切り替え、吸光度変換、発光測定、時間軸 - 波長軸変換、非線形最小二乗フィッティング機能 (指数関数、二次反応型の関数など)
データ処理部 OS: Windows® XP、インターフェース 高速パラレルI/O、GPIB
オプション 恒温水循環槽、低温セル室、各種フィルター、拡散反射光学系、超高速測定系 (帯域 200 MHz)、モニター光用フラッシュランプ、帯域 500 MHzオシロスコープ
※マルチチャンネル測定に関してはTSP-1000システムをご覧下さい (可視・紫外のみ)
※仕様・外観は予告なく変更することがありますので、あらかじめご了承願います。
NanoSpeK ナノ秒時間分解分光測定システム TSP-2000 励起/モニター光学系TSP-2000 励起/モニター光学系
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