取り扱い製品

走査型プローブ顕微鏡

走査型プローブ顕微鏡

超高真空極低温強磁場中走査型トンネル顕微鏡システム 超高真空極低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム

ナノ計測・加工機

ナノ計測・加工機

ナノプローブ表面電気特性測定装置、XYZ3軸 ナノマニピュレータ/プローバ、ナノマイクロ回転ステージ、SEM中4端子測定

分析機器

分析機器

ストップトフローラピッドスキャン分光測定装置、クライオスタット、ミキシング装置、高出力速度制御型シリンジポンプ

SPMコントローラー

SPMコントローラー

走査型プローブ顕微鏡コントロールシステム Unisurface、ステージコントローラー、AFM用PLL検波回路

プローブ

プローブ

高性能STM用プローブ、プローバー用導電性ナノプローブ、ニッケルプローブ、白金ｲﾘｼﾞｳﾑﾌﾟﾛｰﾌﾞ、ﾀﾝｸﾞｽﾃﾝﾌﾟﾛｰﾌﾞ

レーザー・光計測システム

レーザー・光計測システム

ナノ秒時間分解分光測定、フェムト秒ポンププローブ過渡吸収測定、サブナノ秒過渡吸収分光、ｱｯﾌﾟｺﾝﾊﾞｰｼﾞｮﾝ蛍光寿命測定

SPM・ユニット製品

SPM・ユニット製品

超高真空多元ミニチュアエバポレーター高温蒸着　有機分子蒸着、スパッタイオン銃、STM用探針加熱装置K-セル蒸着源

SPM測定サンプルデータ

SPM測定サンプルデータ

SPM測定サンプルデータ(SPM Sample Image)-超高真空極低温強磁場中走査型トンネル顕微鏡システム、プローブ顕微鏡

光源ランプ

光源ランプ

ハロゲンランプハウス100W用　D2ランプハウス30W用、キセノンランプハウス 150W用、ダブルポートXeランプハウス

SPM表面分析付属消耗品

SPM-表面分析付属品、消耗品

STM用探針Pt;Ir、タングステン接触検査ナノプローブ、ニッケルプローブ、白金イリジウムプローブ、サンプルホルダ、絶縁碍子(ガイシ)

RHK走査型プローブ顕微鏡

RHK社製走査型プローブ顕微鏡

SPM1000コントロールシステム、ピエゾモータコントローラ、大気中（環境下）STM と AFM、微小電流検出STM用プリアンプ

分光測定サンプルデータ

分光測定サンプルデータ

分光測定サンプルデータSpectrophoto meter Sample Image、低温セル室クライオスタット測定、サブナノ秒過渡吸収分光データ

イベント・展示会

製品情報

What's NEW

  • NEW『Nature』に掲載 ユニソクの超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡システム　USM1400シリーズ（特別仕様）を使用し、空間分解能1nm以下で単分子のプラズモン増強ラマン散乱マッピングに成功した記事が掲載されました。
  • NEWZ軸校正標準サンプル　ナノスケール ・走査型プローブ顕微鏡（SPM）の高さ校正用標準試料として最適
    ・4H-SiC基板の（000-1）C面上に高さ0.50nmの均一ステップを形成
    ・STM測定が可能な導電性を有する
    30mK極低温強磁場環境STM装置
  • 研究論文 『Science』に掲載 ユニソク製 超高真空極低温強磁場中走査型トンネル顕微鏡システム USM1300シリーズを使用した研究論文がScienceに掲載されました。
  • 研究論文 Nature Materials に掲載 研究論文がNature Materialsに掲載
    ユニソク製 超高真空極低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム USM1400-4Pを使用した研究論文がNature Materialsに掲載されました。

SPM表面分析付属品、消耗品

ICF70ポート取付カプラ付きLEDライトICF70取付カプラ付LEDライト
Introduction of STM-Probe STM用探針STM用探針
タングステンプローブ（接触検査ナノプローブ用）P-100WSタングステンプローブ (STM用)
タングステンプローブ（接触検査ナノプローブ用）P-100WPＴＰ(接触検査ナノプローブ用)
PtIrコーティングタングステンプローブ P-100W/PtIrPtIrコーティングタングステンプローブ
ニッケルプローブ P-100Ni(S)ニッケルプローブS
ニッケルプローブ P-100Ni(P)ニッケルプローブP
白金イリジウムプローブ（電解研磨仕上げ・STM用）P-100PtIr(S)白金イリジウムプローブ(STM用)
白金イリジウムプローブ(電解研磨仕上げ・接触検査ナノプローブ用)PtIr(接触検査ナノプローブ用)
マイカ基板上の金(Au)蒸着膜(15×15mm)マイカ基板金(Au)蒸着膜
STM-HOPG Image STM測定用試料(HOPG)STM測定用試料(HOPG)
Argon Gas minisylinder with valve image バルブ付ミニシリンダ(Ar入)バルブ付ミニシリンダ(Ar入)
minisylinder with valve image バルブ付ミニシリンダ（空）バルブ付ミニシリンダ（空）
Insulator_No.1 絶縁碍子（ガイシ）凸型 image絶縁碍子(ガイシ)凸型
Insulator No.A STM測定用試料(HOPG) image絶縁碍子(ガイシ)凸型
Insulator No.A-2 絶縁碍子(ガイシ)数珠玉碍子 image 1絶縁碍子(ガイシ)数珠玉碍子
Insulator No.AL-1 絶縁碍子(ガイシ)筒型 image絶縁碍子(ガイシ)筒型
Replacement Filament 交換用フィラメント image交換用フィラメント
Filament Cover タンタル製フィラメントカバー imageタンタル製フィラメントカバー
Platinum Wire Ring 白金線(Pt)リング(交換用) image白金線(Pt)リング(交換用)
Square Cell セル(角型セル) imageセル(角型セル)
Mini Mag Lite ミニマグライト(2個1組) imageミニマグライト(2個1組)
Crucible K-Cell Evaporator Kセル蒸着用坩堝(ルツボ) imageKセル蒸着用坩堝(ルツボ)
STM sample holder STM用サンプルホルダ(通電加熱用) imageSTMｻﾝﾌﾟﾙﾎﾙﾀﾞ(通電加熱)
ULT-STM sample holder 極低温STM用サンプルホルダ(通電加熱用) image極低温STMｻﾝﾌﾟﾙﾎﾙﾀﾞ(通電加熱)
STM probe Holder STM探針ホルダ(直径0.5mm用) imageSTM探針ホルダ(直径0.5mm)

Sample Image

STM Topographic Image of Cinchonine molecules on Pt(100) -- USM-1100 Sample 1Cinchonine molecules on Pt(100)
STM Topographic Image of Si(100) -- USM-1200 Sample 1 STM Topographic Image of Si (100)
STM Topographic Image of vortex lattice of a superconductor NbSe 2 -- USM-1300 Sample 2vortex lattice of a super conductor NbSe2
STM Topographic Image of Si(111) surface -- USM-1400 Sample 1STM Topographic Image of Si(111) surface
STM Topographic Image of Si(100) surface -- USM-1400 Sample 3STM Topographic Image of Si(100) surface
Four probes over carbon nanotube -- ナノプローブ表面電気特性測定装置 Sample 1Four probes over carbon nanotube
Result Gallery -- ナノプローブ表面電気特性測定装置 Sample 2SEM Image of 4 Probes bellow 10K
Result Gallery -- ナノプローブ表面電気特性測定装置 Sample 3SEM Image of 4 Probes bellow 10K
本WEBページにはPDFのページがあります。Adobe Readerをインストールされていない場合は下記からダウンロードしてください。 http://www.adobe.com/jp/products/acrobat/readstep2.html