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ピコ秒過渡吸収分光システム
picoTAS

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ピコ秒過渡吸収分光システム picoTAS

picoTASは新技術RIPT(リプト)法 (Randomly Interleaved Pulse Train Method) により、従来法では測定が難しかった 1 ナノ秒から 20 ナノ秒の「空白時間帯」を含む 100 ps ~ ms の時間帯の過渡吸収測定を可能にしました。さらに発光の影響を差し引くことができるため、発光性、非発光性試料を問わず、これまで観測できなかった反応系の過渡吸収信号を観測できます。picoTASは、基礎から応用にわたり新たな光化学研究の道を開きます。

picoTAS graph 1 picoTAS graph 2

特長
空白時間帯(1ns~20ns)を完全にカバー
100 ピコ秒からミリ秒の過渡吸収測定
可視~近赤外の広い測定波長領域
蛍光除去を解決
コンパクト設計、光学ベンチ不要(-ns モデル)
お手持ちのパルスレーザーにも対応可能
アプリケーション
励起一重項/励起三重項の過渡吸収スペクトルの観測
項間交差速度の算出
電子移動、電荷分離ダイナミクスの追跡
エキシマー生成や分子間反応の観測とその速度定数の導出
人工光合成、人工太陽電池、有機EL などの反応機構の解析
仕様
モデルpicoTAS-nspicoTAS-ps
測定方式RIPT法 (Randomly Interleaved Pulse Train method)
時間分解能(10%-90% 立ち上り時間)400 ps 以下100 ps 以下
遅延時間分解能10 ps, 20 ps, 50 ps, 100 ps, 200 ps, 500 ps, 1 ns, 2 ns, 5 ns, 10 ns, 20 ns
測定フルスケール100 ns ~ 2 ms
測定波長410 ~ 1600 nm
自動制御波長スキャン、光強度調整、シャッター制御
対応試料溶液(光路長 2mm)、薄膜
ポンプ光光源パッシブ Q-SW マイクロチップレーザピコ秒モードロックレーザー
波長532 nm and/or 355 nm532 nm and/or 355 nm and/or 266 nm
パルス幅350 ps 以下25 ps 以下
パルスエネルギー20 µJ 以上80 µJ 以上
繰り返し周波数100 - 1000Hz(可変)1000 Hz
プローブ光光源高繰り返しピコ秒スーパーコンティニュアム光源
パルス幅50-100 ps 以下(波長に依存)
繰り返し周波数20 MHz ± 5%
制御用PC測定ソフトウェアOSWindows® 7/10
機能ハードウェア自動制御、過渡吸収信号再構成・表示、カーブフィッティング (非線形最小自乗法)、データ重ね書き、データのテキスト保存
設置環境光学ベンチ不要光学ベンチ上に設置

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