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フェムト秒ポンプ・プローブ過渡吸収測定装置 HELIOS

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最先端の超高速分光システム

フェムト秒ポンプ・プローブ過渡吸収測定装置 HELIOS

HELIOSは、圧倒的な使い易さと驚異的な低ノイズレベルを誇るフェムト秒ポンプ・プローブ透過吸収測定装置です。革新的な光学系を採用し、610 × 915 mm というコンパクトなブレッドボード上に納まっています。ノイズレベル 0.0002 OD (代表値) の時間・波長・吸光度データを30分で取得できます。各社のフェムト秒レーザー対応可能です。

測定画面

HELIOS 表示画面 HELIOS 測定画面
特長
世界中で豊富な実績
最先端のCMOSセンサ採用で 5 kHz のレーザーにも対応
シングルビームなので調整が容易。オプションでダブルビームにも拡張可能
ビームアラインメントツールによる簡単なディレイライン調整
オプションで 8 ns のディレイにまで対応
チャープ補正、SVD、グローバル解析ソフトウェア付属
サブナノ秒過渡吸収分光システムEOSとコンバイン可能
用途
光物性、光化学、光生物 (視物質・光合成)、材料化学 (太陽電池・フォトクロミック材料)、ナノサイエンス…
励起状態、項間交差、振動緩和、内部転換、電子移動などの分子内過程
ナノ粒子の光物性、太陽エネルギー変換 (太陽電池材料)、光合成の研究
Photothermal Therapy (光熱療法) や Photodynamic Therapy (光線力学的治療法) の光ダイナミクス
DNAと光の相互作用の研究
巨大分子やナノ構造における電荷移動、エネルギー移動LEDの開発
光放射ディスプレイの開発
標準仕様およびオプション
HELIOS-VIS: 450 ~ 800 nm、350 ~ 750 nm (オプション)
HELIOS-VIS-NIR: 450 ~ 800 nm、800 ~ 1600 nm、350 ~ 750 nm (オプション)
ディレイ長: 3.3 ns、6.6 ns (オプション)、8 ns (オプション)
時間分解能: レーザーパルス幅の 1.4 倍
ダブルビームオプション
異方性測定オプション、反射測定オプション

詳しい情報はこちらよりお願いいたします。

ULTRAFAST Systems社 (HELIOS)
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