表面分析装置
新製品、注目製品
- Phasis-AUM マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜
- 時間分解走査トンネル顕微鏡システム
- 液体ヘリウムフリー超高真空低温 走査型トンネル顕微鏡システム USM1800
- 超高感度熱脱離分析装置 HEMTO-TDS
- 微小応力印加装置
SPM
走査型プローブ顕微鏡
- 超高真空低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1200
- 超高真空極低温強磁場中走査型トンネル顕微鏡システム USM1300
- 超高真空低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400
- 超高真空低温4探針走査型プローブ顕微鏡システム USM1400-4P
- 超高真空低温SPM/ラマン顕微鏡システム USM1400-LT TERS
- 超高真空低温強磁場中走査型プローブ顕微鏡 USM1500
- 希釈冷凍方式超高真超低温強磁場中走査型トンネル顕微鏡システム USM1600
- 液体ヘリウムフリー超高真空低温 走査型トンネル顕微鏡システム USM1800
SPMコントローラー
SPMユニット製品
- 超高真空エバポレーター UEシリーズ
- Phasis-AUM マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜
- マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜 AU25M
- 高性能STM用プローブ
- 2kV スパッタイオン銃 IB-201
- STM探針電解研磨装置 UTE-1001
- K-セル蒸着源 U100-1000
- 電子ビーム蒸着用温度コントローラ SPC-MTC
- STM用探針電子ビーム加熱装置 EBT-100
- EB蒸着器・サンプル加熱用電源 EBM-100
- マイコン搭載DC電源 APS-100
- バイアスアッテネーター UBDF-200・オシレーションアッテネータ OSA-100
- 液体ヘリウム液面計 HLM-100
- 変調トランス SPC-DTF
- RFフィルタ ULF-100
- ステージ位置センサ SPC-UCP
- 超高真空エバポレーター 温度コントローラー UTC-100
- 超高真空走査型プローブ顕微鏡ユニット ST100
SPM表面分析付属品・消耗品
SPM測定サンプルデータ
ナノプローバー・プローブ
ナノプローブ・ナノ計測加工機
- 超高真空4プローブ表面電気特性測定装置 UMP1000-4P
- 大気型4プローブ表面測定シスム UP2000-4P
- XYZ 3軸 ナノマニピュレーター/プローバー UMP1000
- ナノ・マイクロ回転ステージ UMP-1000R
- 微小応力印加装置