ピコ秒過渡吸収分光システム picoTAS
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+ TCSPC（蛍光寿命測定）
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picoTASは新技術RIPT（リプト）法 (Randomly Interleaved Pulse Train Method) により、従来法では測定が難しかった 1 ナノ秒から 20 ナノ秒の「空白時間帯」を含む 100 ps ～ ms の時間帯の過渡吸収測定を可能にしました。さらに発光の影響を差し引くことができるため、発光性、非発光性試料を問わず、これまで観測できなかった反応系の過渡吸収信号を観測できます。picoTASは、基礎から応用にわたり新たな光化学研究の道を開きます。
特長
| 空白時間帯(1ns～20ns)を完全にカバー |
| 100 ピコ秒からミリ秒の過渡吸収測定 |
| 可視～近赤外の広い測定波長領域 |
| 蛍光除去を解決 |
| コンパクト設計、光学ベンチ不要（-ns モデル） |
| お手持ちのパルスレーザーにも対応可能 |
アプリケーション
| 励起一重項/励起三重項の過渡吸収スペクトルの観測 |
| 項間交差速度の算出 |
| 電子移動、電荷分離ダイナミクスの追跡 |
| エキシマー生成や分子間反応の観測とその速度定数の導出 |
| 人工光合成、人工太陽電池、有機EL などの反応機構の解析 |
仕様
| モデル | picoTAS-ns | picoTAS-ps |
| 測定方式 | RIPT法 (Randomly Interleaved Pulse Train method) |
| 時間分解能(10%-90% 立ち上り時間) | 400 ps 以下 | 100 ps 以下 |
| 遅延時間分解能 | 10 ps, 20 ps, 50 ps, 100 ps, 200 ps, 500 ps, 1 ns, 2 ns, 5 ns, 10 ns, 20 ns |
| 測定フルスケール | 100 ns ～ 2 ms |
| 測定波長 | 410 ～ 1600 nm |
| 自動制御 | 波長スキャン、光強度調整、シャッター制御 |
| 対応試料 | 溶液(光路長 2mm)、薄膜 |
| ポンプ光 | 光源 | パッシブ Q-SW マイクロチップレーザ | ピコ秒モードロックレーザー |
| 波長 | 532 nm and/or 355 nm | 532 nm and/or 355 nm and/or 266 nm |
| パルス幅 | 350 ps 以下 | 25 ps 以下 |
| パルスエネルギー | 20 µJ 以上 | 80 µJ 以上 |
| 繰り返し周波数 | 100 - 1000Hz（可変） | 1000 Hz |
| プローブ光 | 光源 | 高繰り返しピコ秒スーパーコンティニュアム光源 |
| パルス幅 | 50-100 ps 以下（波長に依存） |
| 繰り返し周波数 | 20 MHz ± 5% |
| 制御用PC測定ソフトウェア | OS | Windows® 7/10 |
| 機能 | ハードウェア自動制御、過渡吸収信号再構成・表示、カーブフィッティング (非線形最小自乗法)、データ重ね書き、データのテキスト保存 |
| 設置環境 | 光学ベンチ不要 | 光学ベンチ上に設置 |
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