高性能STM用プローブ
商品カタログPDF 論文ニッケル、白金イリジウムプローブ
ニッケルプローブの針先部のSEM写真STM測定における測定の安定性は、探針の良否に大きく影響されます。探針の先端径のばらつき、探針表面の汚染、清浄化処理の失敗によって良好なSTM測定結果が得られないことがしばしば起こります。当社ではこれらの問題を解決すべく、汚染が少なく、かつ鋭い先端径を得ることが出来る電解研磨法を用いたニッケルおよび白金イリジウム製のSTM用プローブの開発に成功しました。従来得られなかった高い安定性を実感していただける金属プローブをご提供致します。加えて旧来からのタングステンプローブもご提供しております。
ニッケルプローブの金、銀等のコーティングも特注にて承っております
ラインナップ
| タングステンプローブ 型番: P-100WS |
ニッケルプローブ※1 型番: P-100Ni (S) |
白金イリジウムプローブ 型番: P-100PtIr (S) |
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| 針先形状: 円錐形 線径: 0.25 mm dia. 先端曲率半径: 35 nm 以下 線材: 多結晶タングステン |
針先形状: 円錐形 線径: 0.25 mm dia. 先端曲率半径: 25 nm 以下 線材: 多結晶Ni |
針先形状: 円錐形 線径: 0.5 mm dia. 先端曲率半径: 20 nm 以下 線材: 多結晶白金イリジウム |
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| - | ※1 磁場中でのSTM観察は不可 | 先端曲率半径の分布 ※クリックで拡大します。 |
探針加熱処理不要※2、安定したSTM測定が可能
大気中でのHOPG観察および超高真空中での金観察において、高温の加熱処理を要することなく原子像を安定して得られることを確認しています。
※2 ニッケルおよび白金イリジウム探針に限ります。ただし、観察表面が活性な場合は脱ガスのための加熱をお勧めします。観察例
ニッケルプローブによるHOPG - STM観察例
ニッケルプローブによる金 (111) - STM観察例※STM用プローブはSEM観察に伴うカーボンの堆積を嫌うため、抜き取りSEM検査のみを行います。
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