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走査型プローブ顕微鏡

USM1200

USM1200 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 極低温
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温6K～10K温度固定
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1300

USM1300 走査型トンネル顕微鏡

超高真空 極低温(<0.4K) 強磁場
ベクターマグネット対応
ベストセラー
  • 分解能：XY 1pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応
    11T、15T(Z軸)、またはベクター2T(X,Y軸)・9T(Z軸)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 希釈冷凍器による極低温対応 3He使用時0.4K以下、固定
  • STM専用機(AFMはオプション)
  • 光検出機能不可(ファイバーによる光導入は可)
USM1400

USM1400 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 極低温
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3K～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1400-4P

USM1400-4P 4探針走査型プローブ顕微鏡

超高真空 極低温 SEM搭載
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3.5～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • SPM測定位置への平行光照射可
  • SEMによるnmオーダーのSPM測定位置観測
USM1500

USM1500 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 極低温 強磁場
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応 8T
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温対応 2.5K以下、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光検出機能(ファイバーによる光導入可)
  • コンパクトな構造(高さ3m以下、ピット工事不要)
USM1600

USM1600 走査型トンネル顕微鏡

希釈冷凍方式 超高真空 極低温(<40mK) 強磁場
ベクターマグネット対応
  • 分解能：XY 1pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応
    11T、15T(Z軸)、またはベクター2T(X,Y軸)・9Ｔ(Z軸)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 希釈冷凍機による極低温対応 3He使用時 40mK以下、固定
  • STM専用機
  • 光検出機能不可
JT-SPM

JT-SPM ジュールトムソン走査型プローブ顕微鏡

超高真空 極低温 強磁場
  • 分解能：XY 10pm以下、Z 10pm以下
  • 強磁場対応 3T(オプション)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温対応 1.2K以下、固定
  • STM、AFM
  • SPM測定位置へ窓から光照射
  • He消費量小(0.1L/hr)、最大100時間動作(Mag未使用時)

SPMシステム対応表

型番 観測温度 光学アクセス AFM その場
蒸着 		磁場印加
Fiber Tip Far Field Lens
ST100 RT STM 300 K ○ ○ ○ ○ ×
USM1200 LT STM 300 K, 78 K, 4.2 K ○ ○ ○ ○ ×
USM1300 ULT STM 0.4 ～ 100 K ○ × △ オプション・要相談 × 11 T, 15 T, 9-2-2 T
USM1400 VT STM 3 K ～ 300 K ○ ○ ○ ○ ×
USM1500 ULT STM 2 K ～ 200 K ○ × ○ × 8 T
USM1600 ULT STM 0.04 K ～ 100 K × × × ○ 11 T, 15 T, 9-2-2 T
JT STM 1.2 K ～ 400 K ○ ○ ○ ○ 3 T
  • STM: Scanning Tunneling Microscope
  • AFM: Atomic Force Microscope
  • RT: Room Temperature
  • LT: Low Temperature
  • ULT: Ultra Low Temperature
  • VT: Variable Temperature

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