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走査型プローブ顕微鏡

USM1200

USM1200 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温6K～10K温度固定
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1300

USM1300 走査型トンネル顕微鏡

超高真空 極低温(<0.4K) 強磁場
ベクターマグネット対応
ベストセラー
  • 分解能：XY 1pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応
    11T、15T(Z軸)、またはベクター2T(X,Y軸)・9T(Z軸)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 希釈冷凍器による極低温対応 3He使用時0.4K以下、固定
  • STM専用機(AFMはオプション)
  • 光検出機能不可(ファイバーによる光導入は可)
USM1400

USM1400 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3K～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1400-4P

USM1400-4P 4探針走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温 SEM搭載
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3.5～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • SPM測定位置への平行光照射可
  • SEMによるnmオーダーのSPM測定位置観測
USM1500

USM1500 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温 強磁場
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応 8T
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温対応 2.5K以下、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光検出機能(ファイバーによる光導入可)
  • コンパクトな構造(高さ3m以下、ピット工事不要)
USM1600

USM1600 走査型トンネル顕微鏡

希釈冷凍方式 超高真空 超低温(<40mK) 強磁場
ベクターマグネット対応
  • 分解能：XY 1pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応
    11T、15T(Z軸)、またはベクター2T(X,Y軸)・9Ｔ(Z軸)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 希釈冷凍機による極低温対応 3He使用時 40mK以下、固定
  • STM専用機
  • 光検出機能不可
USM1400-LT TERS

USM1400-LT TERS 超高真空低温SPM/ラマン顕微鏡システム

超高真空・低温環境でのSPM形状像とラマン分光イメージの同時測定
ラマンの「nm」イメージ分解能
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3K～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可

SPMシステム対応表

型番 観測温度 オプション TERS
Option		 LHe
保持
光学
アクセス
(可動内部
レンズ)		 AFM その場
蒸着		 磁場印加 温度
可変		 高周波
1Ghz
USM1200LL
LT SPM 		300 K,
80 K,
Option:
50 ～
5 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ △ 300 h
USM1400LL
LT SPM 		300 K,
80 ～ 5 K,
Option:
5 ～
3 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ ○ 40 h
USM1400TL
LT SPM 		300 K,
80 ～ 5 K,
5 ～ 3 K		 ○ ○ ○ △
0.5 T		 ○ ○ ◎ 40 h
USM1500
LT SPM 		100 K ～
2 K		 × ○ × 8 T
(標準)		 ○ ○ × 4～8 日
USM1300
VLT STM 		80 ～
350 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 ○ △ × 5～8 日
USM1300J
VLT STM 		80 ～
350 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 ○ ○ × 4～8 日
USM1600
ULT STM 		80 K,
5 K ～
40 mK		 × ○ × 11 T, 15 T,
2-2-9 T,
他		 △ × × 5～8 日
USM1600J
ULT STM 		5 K ～
40 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 △ ○ × 4～6 日
  • SPM: Scanning Probe Microscope
  • STM: Scanning Tunneling Microscope
  • LT: Low Temperature
  • VLT: Very Low Temperature
  • ULT: Ultra Low Temperature

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