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走査型プローブ顕微鏡
SPMシステム対応表
型番 | 観測温度 | オプション | TERS Option |
LHe 保持 |
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光学 アクセス (可動内部 レンズ) |
AFM | その場 蒸着 |
磁場印加 | 温度 可変 |
高周波 1Ghz |
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USM1200LL
LT SPM |
300 K, 80 K, Option: 50 ~ 5 K |
○ | ○ | ○ | × | ○ | ○ | △ | 300 h |
USM1400LL
LT SPM |
300 K, 80 ~ 5 K, Option: 5 ~ 3 K |
○ | ○ | ○ | × | ○ | ○ | ○ | 40 h |
USM1400TL
LT SPM |
300 K, 80 ~ 5 K, 5 ~ 3 K |
○ | ○ | ○ | △ 0.5 T |
○ | ○ | ◎ | 40 h |
USM1500
LT SPM |
100 K ~ 2 K |
× | ○ | × | 8 T (標準) |
○ | ○ | × | 4~8 日 |
USM1300
VLT STM |
80 ~ 350 mK |
× | ○ | × | 11 T, 15 T, 2-2-9 T, 他 |
○ | △ | × | 5~8 日 |
USM1300J
VLT STM |
80 ~ 350 mK |
× | ○ | × | 11 T, 15 T, 2-2-9 T, 他 |
○ | ○ | × | 4~8 日 |
USM1600
ULT STM |
80 K, 5 K ~ 40 mK |
× | ○ | × | 11 T, 15 T, 2-2-9 T, 他 |
△ | × | × | 5~8 日 |
USM1600J
ULT STM |
5 K ~ 40 mK |
× | ○ | × | 11 T, 15 T, 2-2-9 T, 他 |
△ | ○ | × | 4~6 日 |
- SPM: Scanning Probe Microscope
- STM: Scanning Tunneling Microscope
- LT: Low Temperature
- VLT: Very Low Temperature
- ULT: Ultra Low Temperature