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走査型プローブ顕微鏡

SPMシステム対応表

型番 観測温度 オプション TERS
Option
LHe
保持
光学
アクセス
(可動内部
レンズ)
AFM その場
蒸着
磁場
印加
温度
可変
高周波
1Ghz
USM1200LL
LT SPM
300 K,
80 K,
Option:
50 ~
5 K
× 300 h
USM1400LL
LT SPM
300 K,
80 ~ 5 K,
Option:
5 ~
3 K
× 40 h
USM1400TL
LT SPM
300 K,
80 ~ 5 K,
5 ~ 3 K

0.5 T
40 h
USM1500
LT SPM
100 K ~
2 K
× × 8 T
(標準)
× 4~8 日
USM1300
VLT STM
80 ~
350 mK
× × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
× 5~8 日
USM1300J
VLT STM
80 ~
350 mK
× × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
× 4~8 日
USM1600
ULT STM
80 K,
5 K ~
40 mK
× × 11 T, 15 T,
2-2-9 T,
× × 5~8 日
USM1600J
ULT STM
5 K ~
40 mK
× × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
× 4~6 日
  • SPM: Scanning Probe Microscope
  • STM: Scanning Tunneling Microscope
  • AFM: Atomic Force Microscope
  • RT: Room Temperature
  • LT: Low Temperature
  • VLT: Very Low Temperature
  • ULT: Ultra Low Temperature
  • VT: Variable Temperature

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