超高真空 時間分解マルチプローブ顕微鏡 USM1400-4P-OPP
商品カタログPDF JST A-STEP 研究開発成果特長
コンパクトな励起光源ユニット
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絶縁体基板上試料のキャリアダイナミクス測定
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絶縁体基板上の微小試料のキャリアダイナミクス測定
Ex. SiO2基板上の単層MoS2 |
デモ測定受付中
測定条件
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時間分解マルチプローブ顕微鏡の応用分野
単層TMDCヘテロ構造のキャリアダイナミクス測定Mogi et al., Appl. Phys. Express 12, 045002 (2019). |
単層TMDCナノ構造のエキシトンダイナミクス測定 |
単層TMDCのトラップ準位ダイナミクス測定Mogi et al., Jpn. J. Appl. Phys. 61, SL1011 (2022). |
Mogi et al., npj 2D Mater. Appl. 6, 72 (2022). |
時間分解マルチプローブ顕微鏡の基本仕様
真空度 | 超高真空 |
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測定温度 | 室温(低温対応はオプション) |
探針数 | 4 |
STMスキャン範囲 | 2 um×2 um |
試料ステージ移動範囲 | X, Y: ±2 mm |
探針ステージ移動範囲 | X. Z: ±2 mm, Y: ±4 mm |
レンズステージ移動距離 | X. -12 mm~+1.5 mm Y: ±2 mm Z: ±2 mm |
光入射角度 | 試料表面に垂直 |
レンズ | 非球面レンズ (NA: 0.3) |
商品カタログPDF JST A-STEP 研究開発成果