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超高真空 時間分解マルチプローブ顕微鏡 USM1400-4P-OPP

商品カタログPDF JST A-STEP 研究開発成果
USM1400-4P-OPP img

特長

コンパクトな励起光源ユニット


  • 時間分解能 ~70 ps
  • 操作性を大幅に改善
  • 試料表面上への長時間安定なレーザー照射
  • 波長は532 nm
  • ナノ秒レーザーの選択も可能

絶縁体基板上試料のキャリアダイナミクス測定


  • 長焦点顕微鏡による試料、探針観察
  • 4本の探針を独立制御
  • ゲート電圧印加可能

絶縁体基板上の微小試料のキャリアダイナミクス測定

Ex. SiO2基板上の単層MoS2 SiO<sub>2</sub>基板上の単層MoS<sub>2</sub>img1 SiO<sub>2</sub>基板上の単層MoS<sub>2</sub>img2

デモ測定受付中

測定条件
真空度 超高真空
測定温度 室温, 78 K
レーザー波長 532 nm
時間分解能 ~ 70 ps
試料ゲート電圧 最大±150 V
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時間分解マルチプローブ顕微鏡の応用分野

単層TMDCヘテロ構造のキャリアダイナミクス測定

単層TMDCヘテロ構造のキャリアダイナミクス測定img Mogi et al., Appl. Phys. Express 12, 045002 (2019).

単層TMDCナノ構造のエキシトンダイナミクス測定

単層TMDCナノ構造のエキシトンダイナミクス測定img

単層TMDCのトラップ準位ダイナミクス測定


単層TMDCのトラップ準位ダイナミクス測定img1 Mogi et al., Jpn. J. Appl. Phys. 61, SL1011 (2022). 		単層TMDCのトラップ準位ダイナミクス測定img2 Mogi et al., npj 2D Mater. Appl. 6, 72 (2022).

時間分解マルチプローブ顕微鏡の基本仕様

真空度 超高真空
測定温度 室温(低温対応はオプション)
探針数 4
STMスキャン範囲 2 um×2 um
試料ステージ移動範囲 X, Y: ±2 mm
探針ステージ移動範囲 X. Z: ±2 mm, Y: ±4 mm
レンズステージ移動距離 X. -12 mm~+1.5 mm
Y: ±2 mm
Z: ±2 mm
光入射角度 試料表面に垂直
レンズ 非球面レンズ (NA: 0.3)
商品カタログPDF JST A-STEP 研究開発成果