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表面分析付属品・消耗品

SPM関連消耗品

※価格は税別です。

ICF70ポート取付カプラ付きLEDライト

ICF70ポート取付カプラ付きLEDライト
内容・型番 A001604
社内コード A001604
使用装置 超高真空SPM等、真空チャンバのICF70ビューポートに取り付け

STM用探針 (Pt;Ir)

STM用探針。PtIr白金イリジウム
内容・型番 P-50 Pt;Ir
社内コード -
使用装置 当社 STM システムに対応
備考 10本で1セットです。(長さは約 11 mm 程度です)

※その他のSTM用金属プローブ、AFM用カンチレバー、プローブホルダ、サンプルホルダは直接お問い合わせ下さい。

タングステンプローブ (STM、接触検査ナノプローブ用)

タングステンプローブ (STM、接触検査ナノプローブ用) P-100W・図
タングステンプローブ (STM、接触検査ナノプローブ用) P-100W・SEM像
内容・型番 P-100W
社内コード -
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 35 nm 以下
全長: 約 10 mm
線材: 0.25 mm dia. 多結晶タングステン
傾斜部長さ: 2 ～ 3 mm
❉10本で1セットです。

ニッケルプローブ (STM、接触検査ナノプローブ用)

ニッケルプローブ P-100Ni(S)
ニッケルプローブ P-100W・SEM像
内容・型番 P-100Ni(S)
社内コード なし
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 25 nm 以下
全長: 約 10 mm
線材: 0.25 mm dia. 多結晶ニッケル
傾斜部長さ: 1 ～ 1.5 mm
❉10本で1セットです。

※STM用プローブはSEM観察に伴うカーボンの堆積を嫌うため、抜き取りSEM検査のみを行います。

白金イリジウムプローブ (電解研磨仕上げ・STM用)

白金イリジウムプローブ (電解研磨仕上げ・STM用) P-100PtIr(S)図 白金イリジウムプローブ (電解研磨仕上げ・STM用) P-100PtIr(S)SEM像
内容・型番 P-100PtIr(S)
社内コード -
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 20 nm 以下
全長: 約 10 mm
線材: 0.5 mm dia. 多結晶白金イリジウム (80:20)
傾斜部長さ: 2.5 ～ 3 mm
❉10本で1セットです。
Distribution of tip apex radius

先端曲率半径の分布

白金イリジウムプローブ (電解研磨仕上げ・接触検査ナノプローブ用)

白金イリジウムプローブ (電解研磨仕上げ・接触検査ナノプローブ用)図 白金イリジウムプローブ (電解研磨仕上げ・接触検査ナノプローブ用)SEM像
内容・型番 P-100PtIr (P)
社内コード -
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 20 nm 以下
全長: 約 10 mm
線材: 0.5 mm dia. 多結晶白金イリジウム (80:20)
傾斜部長さ: 2.5 ～ 3 mm
❉10本で1セットです。

※低接触抵抗、幅広い接触測定向け

Ag（銀）プローブ

Ag（銀）プローブ図 Ag（銀）プローブSEM像
内容・型番 P-100Ag
社内コード -
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 50 nm 以下
全長: 約 10 mm
線材: 0.4 mm dia. 多結晶Ag(銀)
傾斜部長さ: 0.3 ～ 0.4 mm
❉5本で1セットです。

Au（金）プローブ　Φ0.1 mm

Au（金）プローブ図 Au（金）プローブSEM像 Au（金）プローブ拡大写真
内容・型番 P-100Au　Φ0.1 mm
社内コード -
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 20 ～ 60 nm
全長: 約 10 mm
線材: 0.1 mm dia. 多結晶Au(金)
傾斜部長さ: ～ 0.3 mm
❉5本で1セットです。

※AR:aspect ratio

Au（金）プローブ　Φ0.25 mm

Au（金）プローブ図 Au（金）プローブSEM像 Au（金）プローブ拡大写真
内容・型番 P-100Au　Φ0.25 mm
社内コード -
備考 STM用、接触検査ナノプローブ用
針先形状: 円錐形
先端曲率半径: 20 ～ 40 nm
全長: 約 10 mm
線材: 0.25 mm dia. 多結晶Au(金)
傾斜部長さ: ～ 0.5 mm
❉5本で1セットです。

※AR:aspect ratio

Phasis社製 マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜

マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜 (25×25mm)
内容・型番 Phasis-AUM
社内コード -
使用装置 SPMサンプルホルダ他(単分子膜の測定用基板に最適)
備考 金膜厚: 200 nm
スイス　ファシス社製

完全受注生産品で、完成後未開封なら3～4ヵ月清浄表面を保ちます

マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜 (25 × 25 mm)

マイカ基板上の金 (Au) 蒸着膜 (25×25mm)
内容・型番 AU25M
社内コード 138075
使用装置 SPMサンプルホルダ他 (単分子膜の測定用基板に最適)
備考 金膜厚: 300 nm
使用前にお客様にてAu (111) 結晶化を行って下さい。(大気中、700°C で水素炎またはブタンガス炎にて加熱)
商品の端にピンセットつかみしろがあります。25x25mm全面使用できるわけではない事、あらかじめご了承ください。
※生産量が限られている為、ユニソクSPMシステムユーザー様以外への販売はご容赦お願いしております。 なにとぞご理解のほどお願い申し上げます。

STM測定用試料 (HOPG)

STM測定用試料 (HOPG) 小判型、菱形
内容 試料の厚さ(t): 約 0.5 mm
社内コード A00010
備考 サンプルホルダー取付プレートに貼り付けた状態にて販売致します。取付プレートはSPMの機種で異なり小判形と菱形がありますのでご指定下さい。

バルブ付ミニシリンダ (Ar入)

※一時・販売中止中
バルブ付きミニシリンダ (Ar入)
内容・型番 U100-1101
社内コード A001700
使用装置 スパッタイオン銃 IB-102、103
備考

アルゴンガス約 1.5 気圧を封入済み
取付フランジ: ICF34 シリンダ内容量: 約 50 cc


※部品入荷の都合により一時生産および販売中止しております。 ご迷惑をおかけいたします。

バルブ付ミニシリンダ (空)

※一時・販売中止中
バルブ付きミニシリンダ (空)
内容・型番 U100-1100
社内コード 423056
使用装置 スパッタイオン銃 IB-102、103
備考

出荷状態のおいてシリンダ内は1気圧の大気です。
取付フランジ: ICF34, シリンダ内容量: 約 50 cc


※部品入荷の都合により一時生産および販売中止しております。 ご迷惑をおかけいたします。

絶縁碍子: 凸型

絶縁碍子: 凸型 絶縁碍子:凸型_図
内容・型番 No. 1
社内コード No. 1
使用装置 SPM サンプルホルダ
備考 アルミナ10個単位で販売いたします。

絶縁碍子: 凸型

絶縁碍子 (ガイシ): 凸型 絶縁碍子 (ガイシ): 凸型 (図)
内容・型番 No. A
社内コード No. A
使用装置 SPM サンプルホルダ等
備考 アルミナ 10個単位で販売いたします。

絶縁碍子: 数珠玉碍子

絶縁碍子 (ガイシ): 数珠玉碍子。真空内配線用等用 絶縁碍子 (ガイシ): 数珠玉碍子 (図)
内容・型番 No. A-2
社内コード No. A-2
使用装置 真空内配線用等
備考 アルミナ 10個単位で販売いたします。

交換用フィラメント

交換用フィラメント
内容・型番 U200-1030型
社内コード -
使用装置 STM 用探針加熱装置 EB-101
備考 先端カット加工済み

タンタル製フィラメントカバー

タンタル製フィラメントカバー
内容・型番 U200-1031型
社内コード 902020
使用装置 STM 用探針加熱装置 EB-101

白金線 (Pt) リング (交換用)

白金線 (Pt) リング (交換用)
内容・型番 U200-1040型
社内コード USM0101
使用装置 STM 探針電解研磨装置 UTE-1001型

セル (角型セル)

セル (角型セル)
内容・型番 206023
社内コード 206023
使用装置 STM 探針電解研磨装置 UTE-1001型

ミニマグライト (2個1組)

ミニマグライト (2個1組)
内容・型番 LM2A001
社内コード -
使用装置 STM 探針電解研磨装置 UTE-1001型
備考 ニップル球仕様の場合は対応できません。

Kセル蒸着用坩堝 (ルツボ)

Kセル蒸着用坩堝 (ルツボ)
内容・型番 U200-1050型
社内コード -
使用装置 Kセル蒸着源 U100-1000型