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走査型プローブ顕微鏡

USM1200

USM1200 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温6K～10K温度固定
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1300

USM1300 走査型トンネル顕微鏡

超高真空 極低温(<0.4K) 強磁場
ベクターマグネット対応
ベストセラー
  • 分解能：XY 1pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応
    11T、15T(Z軸)、またはベクター2T(X,Y軸)・9T(Z軸)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 希釈冷凍器による極低温対応 3He使用時0.4K以下、固定
  • STM専用機(AFMはオプション)
  • 光検出機能不可(ファイバーによる光導入は可)
USM1400

USM1400 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3K～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1400-4P

USM1400-4P 4探針走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温 SEM搭載
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3.5～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • SPM測定位置への平行光照射可
  • SEMによるnmオーダーのSPM測定位置観測
USM1500

USM1500 走査型プローブ顕微鏡

超高真空 低温 強磁場
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応 8T
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 極低温対応 2.5K以下、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光検出機能(ファイバーによる光導入可)
  • コンパクトな構造(高さ3m以下、ピット工事不要)
USM1600

USM1600 走査型トンネル顕微鏡

希釈冷凍方式 超高真空 超低温(<40mK) 強磁場
ベクターマグネット対応
  • 分解能：XY 1pm以下、Z 0.2pm以下
  • 強磁場対応
    11T、15T(Z軸)、またはベクター2T(X,Y軸)・9Ｔ(Z軸)
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 希釈冷凍機による極低温対応 3He使用時 40mK以下、固定
  • STM専用機
  • 光検出機能不可
USM1400-LT TERS

USM1400-LT TERS 超高真空低温SPM/ラマン顕微鏡システム

超高真空・低温環境でのSPM形状像とラマン分光イメージの同時測定
ラマンの「nm」イメージ分解能
  • 分解能：XY 2pm以下、Z 0.2pm以下
  • 磁場対応無し
  • 超高真空対応 <10-8Pa
  • 温度可変 3K～100K、可変
  • STM（AFMはオプション)
  • 光学実験用レンズ内蔵可
USM1800

USM1800 液体ヘリウムフリー超高真空低温 走査型トンネル顕微鏡システム

機械式冷凍機で6K以下の原子分解能STMを実現
希少な冷媒を使用せず、長時間の連続冷却

SPMシステム対応表

型番 観測温度 オプション TERS
Option		 LHe
保持
光学
アクセス
(可動内部
レンズ)		 AFM その場
蒸着		 磁場印加 温度
可変		 高周波
1Ghz
USM1800
LT STM 		300 K,
6 ～ 20 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ △ ∞
USM1200
LT SPM 		300 K,
80 K,
(Option)
50 ～
5 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ △ 300 h
USM1400LL
LT SPM 		300 K,
80 ～ 5 K,
(Option)
5 ～
3 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ ○ 40 h
USM1400TL
LT SPM 		300 K,
80 ～ 5 K,
(Option)
5 ～
3 K		 ○ ○ ○ △
0.5 T		 ○ ○ ◎ 40 h
USM1500
LT SPM 		100 K ～
2 K		 × ○ × 8 T
(標準)		 ○ ○ × 4～8 日
USM1200JT
LT SPM 		300 K,
80 K,
4 ~ 1.2 K
(Option)
3He使用：0.6 K		 ○ ○ ○ △
(～3 T)		 ○ △ △ 250 h
USM1300
VLT STM 		80 ～
350 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 ○ △ × 5～8 日
USM1300J
VLT STM 		80 ～
350 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 ○ ○ × 4～8 日
USM1600
ULT STM 		80 K,
5 K ～
40 mK		 × ○ × 11 T, 15 T,
2-2-9 T,
他		 △ △ × 5～8 日
  • SPM: Scanning Probe Microscope
  • STM: Scanning Tunneling Microscope
  • LT: Low Temperature
  • VLT: Very Low Temperature
  • ULT: Ultra Low Temperature

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