> 表面分析装置 > 走査型プローブ顕微鏡 > 超高真空低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

超高真空低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

商品カタログPDF SPMシステム対応表 論文紹介

高い拡張性を有した超高真空低温SPM
近接場光/ラマン分光に拡張可能

超高真空低温走査型プローブ顕微鏡システム USM1400

本装置は新規に開発されたクライオスタットを採用し、STMをはじめAFMの機能を備えた最新設計の低温SPM装置で近接場光測定やラマン分光などのまったく新しい用途に使用できます。


特長
新開発クライオスタットにより 3.0 KまでのSPM測定が可能
拡張性の高い構造を持ち、光学系レンズ、観測位置蒸着、プローブ追加など様々なオプションに対応
用途
低温STM、非弾性トンネル分光 (IETS)
AFM各機能への応用 (MFM・KFM・SCMなど)
光励起STM・AFM測定
低温高分解能トンネル発光、探針増強ラマン分光
In situ 蒸着、原子・分子の吸着
仕様
SPMヘッド
最大スキャン範囲 (X × Y × Z) 1.7 × 1.7 × 0.54 μm3 @ 4.5 K
分解能 原子分解能
到達温度 5.5 ~ 100 K 温調可
真空度 観測室・処理室共に 3.0 ×10-8Pa、導入室 5 ×10-5Pa
STMコントローラー Nanonis™ SPMコントロールシステム
オプション
AFM機能 チューニングフォーク式NC-AFM
観測室拡張機能 レンズステージ・プローブステージ・高周波印加

商品カタログPDF SPMシステム対応表 サンプルデータ 論文紹介