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USMシリーズ SPMシステム対応表

型番 観測温度 オプション TERS
Option		 LHe
保持
光学
アクセス
(可動内部
レンズ)		 AFM その場
蒸着		 磁場印加 温度
可変		 高周波
1Ghz
USM1800
LT STM 		300 K,
6 ～ 20 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ △ ∞
USM1200
LT SPM 		300 K,
80 K,
(Option)
50 ～
5 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ △ 300 h
USM1400LL
LT SPM 		300 K,
80 ～ 5 K,
(Option)
5 ～
3 K		 ○ ○ ○ × ○ ○ ○ 40 h
USM1400TL
LT SPM 		300 K,
80 ～ 5 K,
(Option)
5 ～
3 K		 ○ ○ ○ △
0.5 T		 ○ ○ ◎ 40 h
USM1500
LT SPM 		100 K ～
2 K		 × ○ × 8 T
(標準)		 ○ ○ × 4～8 日
USM1200JT
LT SPM 		300 K,
80 K,
4 ~ 1.2 K
(Option)
3He使用：0.6 K		 ○ ○ ○ △
(～3 T)		 ○ △ △ 250 h
USM1300
VLT STM 		80 ～
350 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 ○ △ × 5～8 日
USM1300J
VLT STM 		80 ～
350 mK		 × ○ × 11 T,
15 T,
2-2-9 T,
他		 ○ ○ × 4～8 日
USM1600
ULT STM 		80 K,
5 K ～
40 mK		 × ○ × 11 T, 15 T,
2-2-9 T,
他		 △ △ × 5～8 日
  • SPM: Scanning Probe Microscope
  • STM: Scanning Tunneling Microscope
  • LT: Low Temperature
  • VLT: Very Low Temperature
  • ULT: Ultra Low Temperature